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金屬鍍層測(cè)厚儀性能特點(diǎn)的描述

日期:2024-09-20 07:37
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摘要:
    金屬鍍層測(cè)厚儀利用X射線的穿透能力特點(diǎn),對(duì)于表面電鍍材料進(jìn)行厚度的分析,該儀器主要由X光管,高壓電源裝置產(chǎn)生X射線,進(jìn)而激發(fā)金屬表面電鍍?cè)剡M(jìn)行識(shí)別,再通過高性能的電制冷探測(cè)器進(jìn)行分析。儀器采用下照式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)更利于對(duì)特殊樣品,小樣品分析,分析速度快,適用于電鍍廠,電子電器行業(yè),水暖建材,工藝品等領(lǐng)域。

金屬鍍層測(cè)厚儀性能特點(diǎn)

    滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。

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