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鍍層測厚儀的基本原理

日期:2024-09-20 07:34
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摘要:
  
     鍍層測厚儀鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
      隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微機技術(shù)后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
      鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的**次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因    為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。



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